產(chǎn)品特點：易集成、優(yōu)質(zhì)體驗感、高精度、多功能

產(chǎn)品優(yōu)點

超高精度與重復性保障優(yōu)越品質(zhì)

高端參考光譜儀可實現(xiàn)前所未有的測量精度，亮度精度±0.4%，色度精度±0.0015； 重復精度±0.0015，flflicker精度±1dB。

優(yōu)質(zhì)的用戶體驗感

所配備的軟件功能強大，數(shù)據(jù)分析詳細，且界面設(shè)計風格簡約，使用便捷，極大提高了用戶的體驗感。

適用于多種應(yīng)用場景

可用于各種尺寸、形狀及分辨率的發(fā)光體檢測；提供開放式SDK ，便于定制化集成。

優(yōu)質(zhì)的用戶體驗感

所配備的軟件功能強大，數(shù)據(jù)分析詳細，且界面設(shè)計風格簡約，使用便捷，極大提高了用戶的體驗感。

多功能合一實現(xiàn)高效率檢測

頻閃的測量，且相機測量時間低至0.45s，節(jié)省空間和時間。

關(guān)鍵技術(shù)點

設(shè)備集成了多項檢測功能，可用于顯示面板的亮度、色度、頻閃、均一性量測以及缺陷檢測。

利用集成的光度計確定調(diào)制頻率，采用同步相機測量，完美避免了發(fā)光體因曝光時間和刷新率不匹配而產(chǎn)生的刷新條紋或殘影現(xiàn)象。

測量過程中由內(nèi)置集成光譜儀作為參照，確保本方案測量任意發(fā)光體都能保證量測精度。

亮度檢測范圍廣，可實現(xiàn)0.005cd/m2的低亮環(huán)境檢測。自定義校準模式能夠更好適配待檢測畫面特性，提高色度測量精度；且實現(xiàn)了標定、測量一體化，有效縮短了檢測時間。

設(shè)備配備有廣角鏡頭，可用于大型顯示屏幕的全屏檢測；且為各種尺寸以及形狀的顯示面板提供解決方案，并保證檢測質(zhì)量。

可 用 于 光 譜 測 量 與 G a m m a 測 量，搭 配Gamma調(diào)節(jié)算法可實現(xiàn)Gamma矯正。

采用TEC半導體制冷技術(shù)極大的降低了傳感器噪聲以及溫度引起的誤差。

主要用途

可作為質(zhì)量測試以及質(zhì)量控制的檢測設(shè)備，可用于各類形狀、各種分辨率及尺寸的LCD、OLED、Micro-LED以及Mini-LED等各類顯示屏幕的光譜、亮度、色度、頻閃的高精度測量，并支持擴展畫面均一性量測和缺陷的檢測。

參數(shù)性能